A2 Degradação por Eletromigração

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Essa interconexão metálica, ao conduzir uma densidade de corrente muito alta, gera internamente uma força de vento eletrônico sobre seus próprios átomos metálicos: os elétrons de condução que passam por essa interconexão metálica, nessa densidade de corrente muito alta, colidem com esses átomos metálicos ao longo de seu percurso, e é o momento transferido por cada colisão desses elétrons de condução para esses átomos metálicos que os empurra na direção em que os elétrons de condução fluem, em vez de na direção oposta que o campo elétrico imporia a um íon positivo isolado. Uma densidade de corrente mais alta resulta em uma força de vento eletrônico maior sobre esses átomos metálicos.

Isso ocorre porque quanto maior a densidade de corrente, maior a força de vento eletrônico sobre esses átomos metálicos. Essa mesma força do vento eletrônico produz um fluxo atômico induzido nos átomos metálicos dessa interconexão metálica: esses átomos metálicos, impulsionados por essa força do vento eletrônico na direção do fluxo de elétrons de condução, são efetivamente deslocados, átomo por átomo, ao longo dessa interconexão metálica, um deslocamento líquido que a agitação térmica comum desses átomos metálicos, sem essa força do vento eletrônico, não produziria por si só em nenhuma direção preferencial. Quanto maior a força do vento eletrônico sobre esses mesmos átomos metálicos, maior o fluxo atômico induzido.

Portanto, esse modelo, com a força do vento eletrônico e o fluxo atômico induzido com os quais foi proposto, faz com que esse mesmo fluxo atômico induzido, onde se acumula de forma desigual ao longo dessa interconexão metálica, forme vazios: nas seções dessa interconexão metálica onde mais átomos metálicos saem, levados por esse fluxo atômico induzido, do que entram, acumula-se um déficit de átomos metálicos, criando eventualmente um vazio. É esse vazio, quando cresce o suficiente para interromper completamente a seção transversal dessa interconexão metálica, que causa um circuito aberto. O fato de essa densidade de corrente, com a qual este modelo foi aberto, permanecer mais alta por um período mais longo nessa interconexão metálica significa que esse fluxo atômico induzido acumula esse vazio mais rapidamente e, consequentemente, a meia-vida até essa falha de circuito aberto, que a equação de Black prevê com base nessa densidade de corrente e na temperatura dessa interconexão metálica, é menor.

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